熒光光譜儀 1.5.1 EDX6000E可專門針對(duì)金屬鍍層厚度進(jìn)行分析。 1.5.2打破傳統(tǒng)儀器直線的設(shè)計(jì)，采用流線體的整體化設(shè)計(jì)，儀器簡(jiǎn)潔大方。 1.5.3采用美國(guó)最新型的Si-pin探測(cè)器，電致冷而非液氮制冷，體積小、數(shù)據(jù)分析準(zhǔn)確且維護(hù)成本低。 1.5.4采用自主研發(fā)的SES信號(hào)處理系統(tǒng)，有效提高測(cè)量的靈敏度，測(cè)量更精確。 1.5.5七種光路校正準(zhǔn)直系統(tǒng)